Langer ICR HH500-75 Set Yakın Alan Mikroprobu 200 kHz - 1 GHz

Prob, manyetik yakın alanların yüksek çözünürlüklü ölçümü için tasarlanmıştır. ICR H probu ile aşağıdaki ölçümler yapılabilir:

• IEC 61967-3'e göre IC üzerinden Yüzey Taraması
• IC üzerinden Hacim Taraması
• Pin Taraması

ICR RF prob başlığındaki ölçüm bobini ölçüm yüzeyine yatay olarak hizalanmıştır.
Prob muhafazasına bir ön yükselteç entegre edilmiştir ve Bias-Tee ile çalıştırılır.
ICR yakın alan probları teslim edilmeden önce kalite kontrolünden geçer. Farklı referans kurulum ölçümleri yapılır ve ortaya çıkan düzeltme çizgileri oluşturulur. İki farklı düzeltme çizgisi belirlenir - standart bir düzeltme çizgisi ve bir H-alan düzeltme çizgisi.

Dikkat: Yapısı nedeniyle ICR probu darbeye karşı hassastır ve taşıma ve kullanım için koruyucu bir kapakla birlikte gelir.